サービスの内容

 

主要所有設備と用途

設備名称 用途(評価内容)
略号 正式名称 表面観察 元素分析 結合状態評価 結晶構造評価
SEM 走査型電子顕微鏡
Scanning Electron Microscope

微小部
     
EPMA Electron Probe Micro Analyzer      
AES 走査型オージェ電子分光装置
Auger Electron SpectroAnalyzer

極表面
   
XPS
(ESCA)
X線光電子校装置
X-ray Photo-electron Spectroscope
   
XRD X線回折装置
X-Ray Diffractometer
     
FT-IR フーリエ変換赤外分光光度計
Fourier Transform Infrared Spectroscope
   
有機主体
 
表 面 観 察: 材料表面の凹凸形状、腐食状態、破面形態、異物の付着状況などの評価と撮像。
元 素 分 析: ミクロンオーダーの小さな凹凸、異物など特定部位の分析、試料間の構成元素比較。
結合状態評価: 材料の構成元素がどのように化学的に結合しているかの評価。
結晶構造評価: 材料の結晶性、非結晶性を評価し、どのような結晶構造化を解析。


back